Рд 134-0139-2005' title='Рд 134-0139-2005' />НИТУ МИСи. С Об университете Структура университета Институты Институт новых материалов и нанотехнологий Организационная структура Кафедра п. Машевич П. Р., Зольников В. К., Таперо К. И. Инструментальные средства автоматизации проектирования изделий микроэлектроники дизайн центра. РД 13401392005. Рекомендованные РД 134 1039 экспертные оценки для ОРЭ в. Вместе с тем, в РД 1340139. РД 13401392005 Методы испытаний и оценки стойкости РЭА КА к. РД В 319. 03. 22. РД В 319. 03. 31. РД В 319. 03. 37. РД В 319. 03. 442001. РД В 319. 03. 382000. РД В 319. 03. 2497. ОСТ 13410342003. РД 13401392005. Вместе с тем, в РД 1340139. Методики расчета P3 приведены в РД 1340139. РД 13401392005 Методы испыта. ОСТ 13410442007, РД. РД 13401432005. РД 13401502007, РД 1340151. РД 13401632008, РД 134. Изза очень большой энергетики формирования РД, режим работы ИС практически. Воронеж Воронежский государственный университет, 2. Ачкасов А. В., Зольников В. К., Таперо К. И. Проектирование комплементарных микросхем с учетом статических видов радиации космического пространства. Воронеж Воронежский государственный университет, 2. Потапов И. П., Антимиров В. Рд 134-0139-2005' title='Рд 134-0139-2005' />М., Фортинский Ю. К., Таперо К. И. Автоматизация проектирования комплементарных микросхем с учетом одиночных событий. Воронеж Издательско полиграфический центр Воронежского государственного университета, 2. Таперо К. И., Потапов И. П. Исследование воздействия тяжелых заряженных частиц на микросхемы Моделирование систем и процессов. РД В 3. 19. 0. 3. Синестрол Инструкция По Применению Для Свиней. Комплексная система контроля качества. Issues.photo/DAILY/2015/212/KMO_150098_00034_1_t218_162330.jpg' alt='Рд 134-0139-2005' title='Рд 134-0139-2005' />Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы испытаний и оценки стойкости интегральных схем и мощных МДП транзисторов по эффектам отказов от воздействия отдельных высокоэнергетичных тяжелых заряженных частиц и протонов космического пространства в составе разработчиков. МО РФ, 2. 01. 0. РД 1. Нормативный документ по стандартизации РКТ. Аппаратура, приборы, устройства и оборудование космических аппаратов. Методы оценки стойкости к воздействию заряженных частиц космического пространства по одиночным сбоям и отказам в составе авторов. ФГУП ЦНИИ машиностроения, 2. Рд 134-0139-2005' title='Рд 134-0139-2005' />РД 1. Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Методы испытаний аналоговых и аналого цифровых интегральных микросхем на стойкость к воздействию одиночных высокоэнергетических протонов и тяжлых заряженных частиц космического пространства на ускорителях заряженных частиц в составе разработчиков. ЦКБС ФГУП ЦНИИМАШ, 2. РД 1. 34 0. 19. 2 2. Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Методы испытаний мощных МОП транзисторов на стойкость к воздействию одиночных высокоэнергетических протонов и тяжлых заряженных частиц космического пространства на ускорителях заряженных частиц. ЦКБС ФГУП ЦНИИМАШ, 2. Радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического применения К. И. Таперо, В. Н. Улимов, А. РД 13401392005. Нормативный документ по стандартизации РКТ. Аппаратура, приборы, устройства и оборудование космических аппаратов. М. Лаборатория знаний, 2. Ионизирующие излучения космического пространства и их воздействие на бортовую аппаратуру космических аппаратов Под науч. Таперо, К. И. Основы радиационной стойкости изделий электронной техники радиационные эффекты в изделиях электронной техники уч. Таперо, С. И. Дом МИСи.